主機型號
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編號 |
名稱 |
描述 |
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|---|---|---|---|
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6433D |
光波元件分析儀 |
頻率范圍:10MHz～26.5GHz |
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6433F |
光波元件分析儀 |
頻率范圍:10MHz～43.5GHz |
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|
6433H |
光波元件分析儀 |
頻率范圍:10MHz～50GHz |
|
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6433L |
光波元件分析儀 |
頻率范圍:10MHz～67GHz |
選件型號
|
編號 |
名稱 |
描述 |
選配 |
|---|---|---|---|
|
6433L-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433L-400+6433L-404，與6433L-405不可同時選配。 |
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|
6433L-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433L-204，與6433L-205不可同時選配。 |
|
|
6433H-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433H-400+6433H-404，與6433H-405不可同時選配。 |
|
|
6433H-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433H-204，與6433H-205不可同時選配。 |
|
|
6433F-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433F-400+6433F-404，與6433F-405不可同時選配。 |
|
|
6433F-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433F-204，與6433F-205不可同時選配。 |
|
|
6433D-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433D-400+6433D-404，與6433D-405不可同時選配。 |
|
|
6433D-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433D-204，與6433D-205不可同時選配。 |
|
|
6433L-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433L-400+6433L-404，與6433L-405不可同時選配 |
|
|
6433L-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433L-204，與6433L-205不可同時選配 |
|
|
6433H-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433H-400+6433H-404，與6433H-405不可同時選配 |
|
|
6433H-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433H-204，與6433H-205不可同時選配 |
|
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6433F-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433F-400+6433F-404，與6433F-405不可同時選配 |
|
|
6433F-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433F-204，與6433F-205不可同時選配 |
|
|
6433D-403 |
四端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433D-400+6433D-404，與6433D-405不可同時選配 |
|
|
6433D-203 |
二端口低頻擴展 |
頻率范圍下限可擴展至500Hz，必選6433D-204，與6433D-205不可同時選配 |
|
|
6433L-405 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433L-400+6433L-401+6433L-404，與6433L-403不可同時選配。 |
|
|
6433L-404 |
四端口可配置測試裝置 |
對四端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433L-400。 |
|
|
6433L-402 |
有源互調失真測量 |
用于有源互調失真信號測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S20。 |
|
|
6433L-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個50dB程控步進衰減器，接收機通路4個50dB程控步進衰減器,必選6433L-400+6433L-404。 |
|
|
6433L-400 |
四端口測量 |
雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率范圍10MHz ～67GHz。 |
|
|
6433L-205 |
二端口T型偏置器 |
內部配置2個T型偏置器，用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433L-201+6433L-204，與6433L-203不可同時選配。 |
|
|
6433L-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。 |
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|
6433L-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路2個50dB程控步進衰減器，接收機通路2個50dB程控步進衰減器,必選6433L-204。 |
|
|
6433L-023 |
混頻器矢量測量功能 |
用于混頻器矢量參數測量，二端口必選6433L-204+6433L-S20，四端口必選6433L-404+6433L-S20。 |
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6433L-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率范圍：10MHz~67GHz，用于對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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6433L-011 |
OE標準件 |
頻率范圍:10MHz～67GHz,用于對光電測試模塊的數據校驗。 |
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6433L-008 |
脈沖測量 |
用于脈沖狀態下S參數測量。 |
|
|
6433H-405 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433H-400+6433H-401+6433H-404，與6433H-403不可同時選配。 |
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6433H-404 |
四端口可配置測試裝置 |
對四端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433H-400。 |
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|
6433H-402 |
有源互調失真測量 |
用于有源互調失真信號測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S20。 |
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|
6433H-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433H-400+6433H-404。 |
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|
6433H-400 |
四端口測量 |
雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率范圍10MHz ～50GHz。 |
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|
6433H-205 |
二端口T型偏置器 |
內部配置2個T型偏置器，用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433H-201+6433H-204，與6433H-203不可同時選配。 |
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|
6433H-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。 |
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|
6433H-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路2個60dB程控步進衰減器，接收機通路2個35dB程控步進衰減器,必選6433H-204。 |
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|
6433H-023 |
混頻器矢量測量功能 |
用于混頻器矢量參數測量，二端口必選6433H-204+6433H-S20，四端口必選6433H-404+6433H-S20。 |
|
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6433H-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率范圍：10MHz~50GHz，用于對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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|
6433H-011 |
OE標準件 |
頻率范圍:10MHz～50GHz,用于對光電測試模塊的數據校驗。 |
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6433H-008 |
脈沖測量 |
用于脈沖狀態下S參數測量。 |
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6433H-003 |
噪聲系數測量 |
用于S參數、噪聲系數和噪聲參數的精確測量，二端口必選6433H-201+6433H-204，四端口必選6433H-401+6433H-404。 |
|
|
6433F-405 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與6433D-403不可同時選配。 |
|
|
6433F-404 |
四端口可配置測試裝置 |
對四端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433F-400。 |
|
|
6433F-402 |
有源互調失真測量 |
用于有源互調失真信號測量,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S20。 |
|
|
6433F-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433F-400+6433F-404。 |
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|
6433F-400 |
四端口測量 |
雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率范圍10MHz ～44GHz。 |
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6433F-205 |
二端口T型偏置器 |
內部配置2個T型偏置器，用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-201+6433F-204，與6433F-203不可同時選配。 |
|
|
6433F-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。 |
|
|
6433F-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路2個60dB程控步進衰減器，接收機通路2個35dB程控步進衰減器,必選6433F-204。 |
|
|
6433F-023 |
混頻器矢量測量功能 |
用于混頻器矢量參數測量，二端口必選6433F-204+6433F-S20，四端口必選6433F-404+6433F-S20。 |
|
|
6433F-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率范圍：10MHz~44GHz，用于對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
|
|
6433F-011 |
OE標準件 |
頻率范圍:10MHz～44GHz,用于對光電測試模塊的數據校驗。 |
|
|
6433F-008 |
脈沖測量 |
用于脈沖狀態下S參數測量。 |
|
|
6433F-003 |
噪聲系數測量 |
用于S參數、噪聲系數和噪聲參數的精確測量，二端口必選6433F-201+6433F-204，四端口必選6433F-401+6433F-404。 |
|
|
6433D-405 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433D-400+6433D-401+6433D-404，與6433D-403不可同時選配。 |
|
|
6433D-404 |
四端口可配置測試裝置 |
對四端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433D-400。 |
|
|
6433D-402 |
有源互調失真測量 |
用于有源互調失真信號測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S20。 |
|
|
6433D-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個70dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433D-400+6433D-404。 |
|
|
6433D-400 |
四端口測量 |
雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率范圍10MHz ～20GHz。 |
|
|
6433D-205 |
二端口T型偏置器 |
內部配置2個T型偏置器，用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433D-201+6433D-204，與6433D-203不可同時選配。 |
|
|
6433D-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加面板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2接收機。 |
|
|
6433D-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路2個70dB程控步進衰減器，接收機通路2個35dB程控步進衰減器，必選6433D-204。 |
|
|
6433D-023 |
混頻器矢量測量功能 |
用于混頻器矢量參數測量，二端口必選6433D-204+6433D-S20，四端口必選6433D-404+6433D-S20。 |
|
|
6433D-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率范圍：10MHz~20GHz，用于對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
|
|
6433D-008 |
脈沖測量 |
用于脈沖狀態下S參數測量。 |
|
|
6433D-003 |
噪聲系數測量 |
用于S參數、噪聲系數和噪聲參數的精確測量，二端口必選6433D-201+6433D-204，四端口必選6433D-401+6433D-404。 |
軟件型號
|
編號 |
名稱 |
描述 |
選配 |
|---|---|---|---|
|
6433L-EWT1 |
保修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年，2年延?？蛇x2項，以此類推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。 |
|
|
6433L-S30 |
頻譜分析功能 |
用于提供多通道頻譜測試功能。 |
|
|
6433L-S28 |
相位掃描測量功能 |
用于相位掃描測量，必選6433L-400。 |
|
|
6433L-S26 |
增益壓縮測量功能 |
用于放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
|
|
6433L-S24 |
嵌入式本振變頻器測量功能 |
用于內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433L-204+6433L-S20,四端口必選6433L-404+6433L-S20，必選6433L-S22或6433L-023。 |
|
|
6433L-S22 |
混頻器標量測量功能 |
用于混頻器標量參數測量，必選6433L-S20。 |
|
|
6433L-S20 |
頻偏測量功能 |
用于頻率偏移測量。 |
|
|
6433L-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩沖法，即時讀取數據。 |
|
|
6433L-S16 |
真實差分測量功能 |
用于真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S28。 |
|
|
6433L-S11 |
高級時域分析 |
用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433L-S11贈送6433L-S10。 |
|
|
6433L-S10 |
高級時域分析 |
用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433L-S11贈送6433L-S10。 |
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|
6433L-S07 |
自動夾具移除功能 |
用于單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除 |
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|
6433L-S05 |
S參數信號完整性分析功能 |
用于分析系統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。 |
|
|
6433H-EWT1 |
保修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年，2年延?？蛇x2項，以此類推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。 |
|
|
6433H-S30 |
頻譜分析功能 |
用于提供多通道頻譜測試功能。 |
|
|
6433H-S28 |
相位掃描測量功能 |
用于相位掃描測量，必選6433H-400。 |
|
|
6433H-S26 |
增益壓縮測量功能 |
用于放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
|
|
6433H-S24 |
嵌入式本振變頻器測量功能 |
用于內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433H-204+6433H-S20,四端口必選6433H-404+6433H-S20，必選6433H-S22或6433H-023。 |
|
|
6433H-S22 |
混頻器標量測量功能 |
用于混頻器標量參數測量，必選6433H-S20。 |
|
|
6433H-S20 |
頻偏測量功能 |
用于頻率偏移測量。 |
|
|
6433H-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩沖法，即時讀取數據。 |
|
|
6433H-S16 |
真實差分測量功能 |
用于真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S28。 |
|
|
6433H-S11 |
高級時域分析 |
用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433H-S11贈送6433H-S10。 |
|
|
6433H-S10 |
時域測量 |
用于時域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連續位置并進行分析 |
|
|
6433H-S07 |
自動夾具移除功能 |
用于單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除 |
|
|
6433H-S05 |
S參數信號完整性分析功能 |
用于分析系統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。 |
|
|
6433F-EWT1 |
保修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年，2年延?？蛇x2項，以此類推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。 |
|
|
6433F-S30 |
頻譜分析功能 |
用于提供多通道頻譜測試功能。 |
|
|
6433F-S28 |
相位掃描測量功能 |
用于相位掃描測量，必選6433F-400。 |
|
|
6433F-S26 |
增益壓縮測量功能 |
用于放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
|
|
6433F-S24 |
嵌入式本振變頻器測量功能 |
用于內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433F-204+6433F-S20,四端口必選6433F-404+6433F-S20，必選6433F-S22或6433F-023。 |
|
|
6433F-S22 |
混頻器標量測量功能 |
用于混頻器標量參數測量，必選6433F-S20。 |
|
|
6433F-S20 |
頻偏測量功能 |
用于頻率偏移測量。 |
|
|
6433F-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩沖法，即時讀取數據。 |
|
|
6433F-S16 |
真實差分測量功能 |
用于真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S28。 |
|
|
6433F-S11 |
高級時域分析功能 |
用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433F-S11贈送6433F-S10。 |
|
|
6433F-S10 |
時域測量功能 |
用于時域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連續位置并進行分析 |
|
|
6433F-S07 |
S參數信號完整性分析功能 |
用于分析系統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。 |
|
|
6433F-S05 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用于端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與6433D-403不可同時選配。 |
|
|
6433D-EWT1 |
保修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年，2年延?？蛇x2項，以此類推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。 |
|
|
6433D-S30 |
頻譜分析功能 |
用于提供多通道頻譜測試功能。 |
|
|
6433D-S28 |
相位掃描測量功能 |
用于相位掃描測量，必選6433D-400。 |
|
|
6433D-S26 |
增益壓縮測量功能 |
用于放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
|
|
6433D-S24 |
嵌入式本振變頻器測量功能 |
用于內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433D-204+6433D-S20,四端口必選6433D-404+6433D-S20，必選6433D-S22或6433D-023。 |
|
|
6433D-S22 |
混頻器標量測量功能 |
用于混頻器標量參數測量，必選6433D-S20。 |
|
|
6433D-S20 |
頻偏測量功能 |
用于頻率偏移測量。 |
|
|
6433D-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩沖法，即時讀取數據。 |
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6433D-S16 |
真實差分測量功能 |
用于真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S28。 |
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6433D-S11 |
高級時域分析功能 |
用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433D-S11贈送6433D-S10。 |
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6433D-S10 |
時域測量功能 |
用于時域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連續位置并進行分析。 |
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6433D-S07 |
自動夾具移除功能 |
用于單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除。 |
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6433D-S05 |
S參數信號完整性分析功能 |
用于分析系統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。 |
