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解決方案
射頻集成電路測(cè)試系統(tǒng)
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方案概述
射頻集成電路測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)射頻集成電路的性能指標(biāo)測(cè)試要求，基于PXIe總線儀器為主體構(gòu)建的一種集射頻、數(shù)字、源測(cè)量等測(cè)試資源于一體且集成度高的集成電路綜合測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)具有開放式的系統(tǒng)體系架構(gòu)，可適用于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、產(chǎn)線測(cè)試、入廠復(fù)檢等不同應(yīng)用場(chǎng)景，能夠滿足射頻前端類相關(guān)的功率放大器、低噪聲放大器、微波開關(guān)、濾波器、雙工器等器件的全指標(biāo)多工位并行自動(dòng)化測(cè)試需求。
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功能特點(diǎn)
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兼容性強(qiáng)-基于PXIe總線儀器為主體構(gòu)建，總線開放
基于PXIe總線儀器為主體構(gòu)建，具有很強(qiáng)的靈活性、兼容性，通過對(duì)射頻、數(shù)字和源測(cè)量類測(cè)試資源的組合重構(gòu)，可滿足不同規(guī)模和指標(biāo)水平的射頻集成電路測(cè)試需求；同時(shí)得益于PXIe總線的開放性，系統(tǒng)也可根據(jù)用戶實(shí)際需求有機(jī)融合全球資源提供最優(yōu)配置。
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測(cè)試快速-立即可用的多工位并行測(cè)試管理支持
支持多線程高速并發(fā)測(cè)試。通過測(cè)試序列模板開發(fā)包的支持可快速完成多工位并行測(cè)試序列編寫，期間所涉及的資源爭(zhēng)用、調(diào)度問題均由軟件平臺(tái)完成，開發(fā)簡(jiǎn)潔，執(zhí)行高效，濾波器測(cè)試場(chǎng)景下測(cè)試速度可達(dá)到20000UPH。
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安全性高-完善的測(cè)試狀態(tài)監(jiān)控與異常處理，保證測(cè)試安全
提供測(cè)試狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控功能，動(dòng)態(tài)感知、智能判定各工位健康狀態(tài)并給出操作建議；完善的異常捕獲與處理機(jī)制，保證測(cè)試安全；支持多級(jí)操作權(quán)限管理，操作記錄可全程記錄并回放。
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校準(zhǔn)完善-涵蓋標(biāo)量、矢量、金機(jī)等多種校準(zhǔn)方式
多維度的校準(zhǔn)支持，基于軟件平臺(tái)已有標(biāo)量校準(zhǔn)框架實(shí)現(xiàn)通道級(jí)插損獲取、修正；基于矢量去嵌技術(shù)實(shí)現(xiàn)可達(dá)被測(cè)集成電路輸入輸出端面的高精度矢量誤差修正；基于向?qū)У慕饳C(jī)校準(zhǔn)技術(shù)，獲取系統(tǒng)偏移，從而實(shí)現(xiàn)批次性的性能一致性快速評(píng)估。
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技術(shù)規(guī)范-支持STDF標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)收集、主流分選機(jī)控制
符合集成電路行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)STDF標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議，集成電路測(cè)試執(zhí)行完成后自動(dòng)生成相應(yīng)格式的測(cè)試數(shù)據(jù)。提供TTL控制插件、GPIB控制插件等，支撐分選機(jī)主流控制方式。
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平臺(tái)完備-共性功能支持豐富完備
立即可用的圖形化軟、硬件失效管理，實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果失效編輯部分與軟、硬件失效設(shè)置聯(lián)動(dòng)，輔助指引被測(cè)集成電路依據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)化流轉(zhuǎn)。
軟件平臺(tái)集成量產(chǎn)管理軟件，應(yīng)用于量產(chǎn)場(chǎng)景，實(shí)現(xiàn)用戶權(quán)限管理，測(cè)試信息留檔備查，測(cè)試信息導(dǎo)入，測(cè)試一鍵執(zhí)行，測(cè)試過程監(jiān)控等功能。
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交付快速-多維度，多人并行開發(fā)交付
基于軟件平臺(tái).Net適配接口反射功能，采用層次化.Net開發(fā)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)面向多維度的多人協(xié)同開發(fā)，大幅度縮短系統(tǒng)調(diào)試交付周期。
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典型應(yīng)用
射頻集成電路測(cè)試系統(tǒng)具有對(duì)射頻集成電路的多參數(shù)自動(dòng)測(cè)試能力，以射頻前端類相關(guān)集成電路測(cè)試為例，具體測(cè)試內(nèi)容包括：頻譜特性、伏安特性、噪聲系數(shù)等。測(cè)試系統(tǒng)各組成部分、信號(hào)流轉(zhuǎn)方式如下圖所示。
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